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近場掃描測量設備
在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
EMScanner近場掃描儀
EMScanner
EMScanner 是一種超近場掃描設備，可連接至頻譜分析儀，或運行 EMScanner 軟件的臺式電腦。 EMScanner 系統的工作頻率范圍達 150 kHz 至 8 GHz，能提供重復性的可靠結果，能夠在幾秒鐘內發現設計失敗的原因。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀
ICS 105 IC set
ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結果。此外，探頭可自動旋轉以確定磁場的準確方向。可選的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達 50μm。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
FLS 106 IC set 四軸定位IC掃描儀
FLS 106 IC set
FLS 106 IC 掃描儀是一個 4 軸定位系統， ICR 近場探頭可以在三個線性軸上移動，在 IC 上方的一個軸上旋轉。 ICR 近場探頭可以測量高達 6 GHz 的高頻磁場或電場，測量分辨率達 50- 100 μm。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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