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近場掃描測量設備
在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
RF1 set 近場探頭組
RF1 set
RF 1近場探頭組包含4個無源近場探頭，用于在研發階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實現緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導線、元器件及其連接點測量，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部沒有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
25KHz單通道光纖探頭
A100-1 set
A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
25KHz雙通道光纖探頭
A100-2
A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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