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主要構成部分：
- RF-K 7-4磁場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-K 7-4型近場探頭能夠測量反向進入探頭的環形磁場線。這類磁場線通常出現于導線、棒形結構、電纜接頭和扁平單元的邊緣等。該探頭的工作方式類似于電流耦合鉗
- RF-U 2.5-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-U 2.5-2型磁場探頭是一個近場探頭，用于檢測導線、元件引腳、SMD組件和集成電路引腳中的射頻電流
- 這個探頭頂端有一個約0.5mm寬的磁場敏感缺口，測試時將這個缺口放在被測對象上
- RF-R 3-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-R 3-2型近場探頭，分辨率高，用于直接檢測電子組裝件上的射頻磁場，例如引腳區域、集成電路外殼、導線、旁路電容器和電磁兼容性（EMC）元件等的磁場
- RF-E 10, 電場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-E 10型電場探頭的電極位于探頭下邊，約0.2mm寬，可以定位最小的電場源，例如0.1mm寬的導線，高引腳數集成電路的單個引腳
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A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。
【廠家】 .
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對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號，可以借助A200-1零電勢地顯示到示波器上，A200-1探頭包含一個傳感器，能夠快速識別到受干擾的信號。該傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。該系統適合在吸收室內監測試樣，或用于優化軟硬件的電磁兼容性。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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