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近場掃描測量設備
在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
up to 40GHz近場探頭
HR-E 40-1 set
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
1MHz-6GHz微型探頭組
MFA 01 set
該探頭組的分辨率高，在磁場測量方面性能優異。它可以測量頻率范圍在6GHz以下的磁場。如信號線、SMD-元件（0603-0201）或集成電路板的引腳。該MFA微型探頭組可以手持操作。
在探頭頭部安裝有放大器。放大器(9 V, 100 mA) 由BT 706型偏置器供電，偏置器的阻抗為50歐姆。該微型探頭組通過BT 706型偏置器與一個頻譜分析儀或示波器相連。
Langer 電磁兼容科技有限公司的近場探頭提供配套的修正曲線。利用修正曲線可以將探頭輸出減壓換算為相應的磁場或電路中的電流。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
100MHz-1GHz微型探頭組
MFA 02 set
該微型探頭組的兩個微探頭可以測量磁場頻率在1GHz以內的磁場，例如在信號線、SMD-元器件（0603-0201）以及集成電路引腳上的磁場。該MFA探頭可以手持操作。
在探頭上集成有一個放大器。放大器的電源（9V，100mA）由BT 706型偏置器提供。偏置器的阻抗為50歐姆。近場探頭通過706型偏置器與頻譜分析儀或者示波器相連。
Langer 電磁兼容科技有限公司的近場探頭提供配套的修正曲線。利用修正曲線可以將探頭輸出減壓換算為相應的磁場或電路中的電流。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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