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近場掃描測量設備
在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
30MHz-3GHz電場探頭
RF-E 02
RF-E 02型近場探頭用于測量總線結構、較大的元器件或者供電表面產生的耦合電場。探頭下方的電極面積大約是2 cm x 5 cm。該探頭用于在距離模塊1cm到2 cm的位置檢測。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
1GHz-3GHz電場探頭
RF-E 03
RF-E 03探頭底部的電極約為4x4mm，適合于定位較小的電場源，例如導線、集成電路板上的單個元器件。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
30MHz-3GHz電場探頭
RF-E 04
RF-E 04型探頭用于檢測由時鐘線和IC表面產生的電場，其靈敏度允許在一定的距離（0.5mm到10mm）檢測電子模塊的電場。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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