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近場掃描測量設備
在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
30MHz-3GHz磁場探頭
RF-K 7-4
RF-K 7-4型近場探頭能夠測量反向進入探頭的環形磁場線。這類磁場線通常出現于導線、棒形結構、電纜接頭和扁平單元的邊緣等。該探頭的工作方式類似于電流耦合鉗。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
30MHz-3GHz迷你型磁場探頭
RF-R 0.3-3
RF-R 0.3-3型磁場探頭的探針很小，能夠以很高的分辨率測量高頻磁場，從而識別出產生干擾的最小元件。此外，小探頭適合于在很難靠近的位置進行測量，例如在集成電路引腳周圍。
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30MHz-3GHz磁場探頭
RF-R 3-2
RF-R 3-2型近場探頭，分辨率高，用于直接檢測電子組裝件上的射頻磁場，例如引腳區域、集成電路外殼、導線、旁路電容器和電磁兼容性（EMC）元件等的磁場。
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【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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