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日置（HIOKI）
公司介紹
日置(HIOKI)創(chuàng)立于1935年，現(xiàn)已確立了在先進(jìn)的測(cè)試測(cè)量工藝技術(shù)研發(fā)及制造領(lǐng)域的國(guó)際性重要地位，并開(kāi)發(fā)了光、通信、環(huán)境測(cè)量等新領(lǐng)域。
LCR測(cè)試儀
IM3536
DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率
延續(xù)日置LCR觸摸屏的操作風(fēng)格，DC，4Hz~8MHz寬量程的測(cè)試范圍。更標(biāo)配了電導(dǎo)率和介電常數(shù)的測(cè)試功能。配合自動(dòng)化產(chǎn)線，帶檢查檢查功能，本機(jī)測(cè)試最快1ms。
【廠家】 日置（HIOKI）
【產(chǎn)品分類(lèi)】 測(cè)試與儀器 - 通用電子測(cè)試 - 元器件參數(shù)測(cè)試
阻抗分析儀
IM7587
高端機(jī)型3GHz
LCR模式和阻抗分析模式二合一機(jī)型，最高3GHz，最快測(cè)試速度0.5ms，帶等效回路分析功能
【廠家】 日置（HIOKI）
【產(chǎn)品分類(lèi)】 測(cè)試與儀器 - 通用電子測(cè)試 - 元器件參數(shù)測(cè)試
電池阻抗測(cè)試儀
BT4560
鋰電池的可靠性判斷 10秒
無(wú)需充放電的低頻AC-IR測(cè)試，大幅縮短電池單元內(nèi)部電阻檢查時(shí)間
【廠家】 日置（HIOKI）
【產(chǎn)品分類(lèi)】 測(cè)試與儀器 - 通用電子測(cè)試 - 元器件參數(shù)測(cè)試
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