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阻抗分析儀
IM7587
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高端機(jī)型3GHz
LCR模式和阻抗分析模式二合一機(jī)型，最高3GHz，最快測(cè)試速度0.5ms，帶等效回路分析功能
廠家
日置（HIOKI）
產(chǎn)品分類(lèi)
特征
● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率：1MHz~3GHz
● 測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間）
● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量
用途
● 共模濾波器、功率電感等測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品
LCR測(cè)試儀
IM3536
DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率
延續(xù)日置LCR觸摸屏的操作風(fēng)格，DC，4Hz~8MHz寬量程的測(cè)試范圍。更標(biāo)配了電導(dǎo)率和介電常數(shù)的測(cè)試功能。配合自動(dòng)化產(chǎn)線，帶檢查檢查功能，本機(jī)測(cè)試最快1ms。
【廠家】 日置（HIOKI）
【產(chǎn)品分類(lèi)】 測(cè)試與儀器 - 通用電子測(cè)試 - 元器件參數(shù)測(cè)試
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BT4560
鋰電池的可靠性判斷 10秒
無(wú)需充放電的低頻AC-IR測(cè)試，大幅縮短電池單元內(nèi)部電阻檢查時(shí)間
【廠家】 日置（HIOKI）
【產(chǎn)品分類(lèi)】 測(cè)試與儀器 - 通用電子測(cè)試 - 元器件參數(shù)測(cè)試
無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)
TS2400
無(wú)線充電的多種多點(diǎn)測(cè)量的全自動(dòng)化，1小時(shí)3000點(diǎn)的高速測(cè)量系統(tǒng)
新能源汽車(chē)無(wú)線充電評(píng)估(WPT）
【廠家】 日置（HIOKI）
【產(chǎn)品分類(lèi)】 測(cè)試與儀器 - 通用電子測(cè)試 - 元器件參數(shù)測(cè)試
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