? ? ????GGB?Industries MULTI-CONTACT WEDGE?可根據您的電路進行定制配置，從而使芯片的設計更加靈活。四個楔塊可以同時用于探測整個芯片。

多觸點楔塊采用單獨彈簧加載的鈹銅尖端，即使在探測非平面結構時也能提供可靠的觸點。這種可靠的低電阻觸點是提供高可重復測量的關鍵之一。多觸點楔塊還可以直接查看探頭尖端，以實現精確定位。

? ? ????當與標準微波探針臺一起使用時，楔塊可以首先定位到任何微波校準標準，然后移動到要測試的MMIC或模塊上的位置。

? ? ????楔塊上的探測點甚至可以設置為不同的深度，以便可以成功探測多級模塊。可以指定 50 到 1250 微米的任何間距（尖端間距），更大間距的探頭，可根據需要的間距尺寸制定。探頭可以配置接地-信號-接地 （G，S，G）、接地信號 （G，S） 或信號接地 （S，G） 針尖封裝。

? ??????通過母 K 連接器連接到 40A 型，并與 SMA 和 3.5mm 連接器兼容。通過一個 2.4mm母連接器連接到 50A 型。與 67A 型的連接是通過母 V 型連接器實現的，并與 2.4mm 連接器兼容。通過 W （1.1mm） 或 1.0 mm 連接器連接到 110A 型。

? ? ????GGB Industries， Inc. 的 MCW-14 和 MCW-26 多觸點楔塊在測試中，是為電路提供直流或電源的靈活替代方案。每個楔塊都是根據您的電路布局定制的，并為電容器提供三個替代位置，直接查看探針以準確定位，并且可以配置14引腳或26引腳連接器。該連接器由位于 0.025 英寸中心的雙排 0.1 英寸方形引腳組成，為用戶提供了一個靈活而有用的連接點。

? ? ????探頭針可以設置為不同的深度，以便可以成功探測多級模塊。MCW-14 和 MCW-26 多觸點楔塊的獨特設計確保了可靠的接觸，即使在探測非平面結構時也是如此，并且在與任何標準微波探針臺一起使用時都可以輕松定位。

特征

• 耐用
• DC 至 40、50、67 或 110 GHz 混合射頻和直流
• 觸點：每側最多 9 個射頻探頭
• 用于MMIC或模塊探測
• 單獨彈簧加載觸點
• 廉價、快速、定制制造
• 根據您的布局定制的每個楔形
• 獲得專利的同軸設計